EEMCS EPrints Service

Education

Research

Prospective Students

Jobs

Publications

Intranet (internal)

Nederlands

Contact

Organisation

21806 Analytische meetkunde door een synthetische bril

Home Policy Brochure Browse Search User Area Contact Help

Timmer, M. and Verhoef, N.C. (2012) Analytische meetkunde door een synthetische bril. Nieuwe Wiskrant, 31 (4). pp. 13-18. ISSN 0928-7167

Full text available as:

	PDF (Authors' version) 364 Kb
	PDF (Publisher's version) 267 Kb

Official URL: http://www.fisme.science.uu.nl/wiskrant/bij_de_nummers/nummer31_4.html

Abstract

Zoals ieder jaar konden docenten ook voor de afgelopen Nationale Wiskunde Dagen een voorstel voor een werkgroep indienen. Een van de twee prijswinnende werkgroepen dit jaar was die van Mark Timmer, Gerard Jeurnink en Nellie Verhoef over rijkere inzichten in de analytische meetkunde. Hiertoe werden de mogelijkheden van het gebruik van synthetische meetkunde in deze context benadrukt. Dit artikel beschrijft het onderzoek en de resultaten.

Item Type:	Article
Research Group:	EWI-FMT: Formal Methods and Tools
Research Program:	CTIT-DSN: Dependable Systems and Networks
ID Code:	21806
Status:	Published
Deposited On:	28 June 2012
Refereed:	Yes
International:	No
More Information:	statistics metis

Export this item as:

To correct this item please ask your editor

Repository Staff Only: edit this item